Wyszukiwanie:
|
|
Sortowanie:
|
|
|
Bibliografia Publikacji Pracowników PK (50023) | Inne bazy bibliograficzne (15019) Architektura i Sztuka Krakowa (2298) | Historia i Ludzie PK – baza w przygotowaniu (0) | Konferencje Krynickie - Referaty (7776) LXVII Konferencja Naukowa, 2022 (41) | LXVI Konferencja Naukowa, 2020 (67) | LXV Konferencja Naukowa, 2019 (58) | LXIV Konferencja Naukowa, 2018 (139) | LXIII Konferencja Naukowa, 2017 (136) | LXII Konferencja Naukowa, 2016 (150) | LXI Konferencja Naukowa, 2015 (145) | LX Konferencja Naukowa, 2014 (190) | LIX Konferencja Naukowa, 2013 (110) | LVIII Konferencja Naukowa, 2012 (168) | LVII Konferencja Naukowa, 2011 (111) | LVI Konferencja Naukowa, 2010 (130) | LV Konferencja Naukowa, 2009 (108) | LIV Konferencja Naukowa, 2008 (161) | LIII Konferencja Naukowa, 2007 (161) | LII Konferencja Naukowa, 2006 (123) | LI Konferencja Naukowa, 2005 (113) | L Konferencja Naukowa, 2004 (165) | XLIX Konferencja Naukowa, 2003 (125) | XLVIII Konferencja Naukowa, 2002 (137) | XLVII Konferencja Naukowa, 2001 (154) | XLVI Konferencja Naukowa, 2000 (140) | XLV Konferencja Naukowa, 1999 (161) | XLIV Konferencja Naukowa, 1998 (140) | XLIII Konferencja Naukowa, 1997 (153) | XLII Konferencja Naukowa, 1996 (164) | XLI Konferencja Naukowa, 1995 (173) | XL Konferencja Naukowa, 1994 (151) | XXXIX Konferencja Naukowa, 1993 (148) | XXXVIII Konferencja Naukowa, 1992 (117) | XXXVII Konferencja Naukowa, 1991 (125) | XXXVI Konferencja Naukowa, 1990 (109) | XXXV Konferencja Naukowa, 1989 (150) | XXXIV Konferencja Naukowa, 1988 (177) | XXXIII Konferencja Naukowa, 1987 (195) | XXXII Konferencja Naukowa, 1986 (190) | XXXI Konferencja Naukowa, 1985 (180) | XXX Konferencja Naukowa, 1984 (143) | XXIX Konferencja Naukowa, 1983 (141) | XXVIII Konferencja Naukowa, 1982 (120) | XXVII Konferencja Naukowa, 1981 (160) | XXVI Konferencja Naukowa, 1980 (169) | XXV Konferencja Naukowa, 1979 (177) | XXIV Konferencja Naukowa, 1978 (143) | XXIII Konferencja Naukowa, 1977 (120) | XXII Konferencja Naukowa, 1976 (143) | XXI Konferencja Naukowa, 1975 (132) | XX Konferencja Naukowa, 1974 (151) | XIX Konferencja Naukowa, 1973 (131) | XVIII Konferencja Naukowa, 1972 (112) | XVII Konferencja Naukowa, 1971 (120) | XVI Konferencja Naukowa, 1970 (116) | XV Konferencja Naukowa, 1969 (75) | XIV Konferencja Naukowa, 1968 (114) | XIII Konferencja Naukowa, 1967 (100) | XII Konferencja Naukowa, 1966 (106) | XI Konferencja Naukowa, 1965 (81) |
| Niepublikowane prace naukowe pracowników PK (1994-2012) (4941) |
|
Jednostki PK
Opcje
|
Forma publikacji | | referat/artykuł | Seria/Czasopismo | | Dokonania Młodych Naukowców | Data wydania | | 2014 | Język | | polski | Numeracja | | 3/2014, Nr 4, Cz. 2 | Typ nośnika | | DVD | Zakres stron | | 595-600 | Oznaczenia ref./art. | | Czasopismo_Nr4_II.pdf | Oznaczenie ilustracji | | rys., wykr. | Bibliografia (na str.) | | 600 | Oznaczenie streszczenia | | Streszcz. | ISSN | | 2300-4436 | Uwagi | | Tematyka: Materiały | Nazwa konferencji | | Konferencja Młodych Naukowców nt. Dokonania Naukowe Doktorantów, II edycja | Miejsce konferencji | | Kraków | Data konferencji | | 12.04.2014 | Charakter pracy | | publikacja naukowa | Publikacja recenzowana | | tak | Opis bibliograficzny | | Elipsometria spektroskopowa w badaniu materiałów / Iwona Grelowska, Bożena Burtan, Janusz Jaglarz, Manuela Reben // Dokonania Młodych Naukowców [Dokument elektroniczny]. – Dysk optyczny DVD. – ... więcejElipsometria spektroskopowa w badaniu materiałów / Iwona Grelowska, Bożena Burtan, Janusz Jaglarz, Manuela Reben // Dokonania Młodych Naukowców [Dokument elektroniczny]. – Dysk optyczny DVD. – 2014, 3/2014, Nr 4, Cz. 2, s. 595-600 : rys., wykr. – Oznaczenie ref./art.: Czasopismo_Nr4_II.pdf. – Bibliogr. s. 600, Streszcz. – Tematyka: Materiały. – Mat. konf.: Konferencja Młodych Naukowców nt. Dokonania Naukowe Doktorantów, II edycja, Kraków, 12.04.2014. – ISSN 2300-4436 |
Słowa kluczowe | | elipsometria, współczynnik załamania, chropowatość | Abstrakt | | We współczesnych technologiach cienkowarstwowych do pomiarów współczynników załamania, ekstynkcji, grubości, porowatości czy chropowatości warstw stosuje się standardowe metody optyczne, do ... więcejWe współczesnych technologiach cienkowarstwowych do pomiarów współczynników załamania, ekstynkcji, grubości, porowatości czy chropowatości warstw stosuje się standardowe metody optyczne, do których należą pomiary widm odbicia i transmisji, interferometria czy też mikroskopia sił atomowych. Przeprowadzane są one w zakresie widmowym światła widzialnego, a także w rozszerzonym zakresie widma od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni UV-NIR (190 – 2500 nm). W artykule omówiono podstawy elipsometrii spektroskopowej, alternatywnej techniki badawczej, która pozwala na dokładne pomiary współczynników załamania, ekstynkcji, chropowatości szkiel oraz grubości cienkich warstw i filmów. Zaprezentowano również dwie odmiany tej metody: elipsometrię fotometryczną i kompensacyjną, realizowane przy zastosowaniu różnych konfiguracji układu optycznego elipsometru. |
Publikacja w Open Access (OA) | | nie |
Link do katalogu Biblioteki PK | | przejdź | Kolekcja | | |
|