Informacje o RPK
o RPK
regulamin RPK
OAI Data Provider
Dla Autorów
OAI Data Provider
deponowanie prac
licencje
doktoraty w RPK
Przeglądaj
według kolekcji
według wydziału
ostatnio opublikowane
Szukaj
Pomoc
wyszukiwanie
logowanie
FAQ
film o RPK
zgłaszanie uwag
Zaloguj
O Bazach
bazy bibliograficzne
o projekcie SUW
Dla Autorów
Przeglądaj
według kolekcji
ostatnio opublikowane
Szukaj
Pomoc
wyszukiwanie
zgłaszanie uwag
Zaloguj
Baza Przedmiotów
opis bazy
o projekcie SUW
Dla Wykładowców
dodawanie przedmiotu
Przeglądaj
według autora
według kolekcji
według wydziału
ostatnio opublikowane
Szukaj
Pomoc
wyszukiwanie
prezentacja Bazy Przedmiotów
zgłaszanie uwag
Zaloguj
Baza Publikacji
o bazie
podstawy prawne
o projekcie SUW
bibliometria
Dla Autorów
aktualności
dodawanie publikacji w CRIS PK
Przeglądaj
według autora
według kolekcji
według wydziału
według dyscypliny
według czasopisma/serii
według wydawnictwa
ostatnio opublikowane
Szukaj
Pomoc
wyszukiwanie
zgłaszanie uwag
dyscypliny publikacji w CRIS PK
Zaloguj
Wojnar, Leszek
;
Kurzydłowski, Krzysztof J.
;
Szala, Janusz
Praktyka analizy obrazu
RPK-książka, 2002,
szczegóły
strona:
z
448
powiększenie:
spis treści:
Spis treści
Od autorów
Podstawy teoretyczne
Rozdział I - Trzeci wymiar obrazu
Podstawy stereologii
Podstawowe pojęcia
Zbiór elementów i pojedyncze elementy
Podstawowe założenia i relacje stereologiczne
Opis cząstek
Gęstość cząstek
Ocena średniej objętości
Kształt cząstek
Rozmieszczenie cząstek
Opis powierzchni
Fraktale
Rozdział II - Podstawy przetwarzania obrazów
Cyfrowy zapis obrazu
Najprostsze sposoby poprawy jakości obrazu
Operacje logiczne i arytmetyczne
Binaryzacja
Filtry
Detekcja krawędzi
Przekształcenia morfologiczne
Transformata Fouriera
Użyteczna klasyfikacja problemów
Rozdział III - Pomiary i analiza wyników
Wstęp
Metody cyfrowe a obróbka ręczna
Przygotowanie próbek i akwizycja obrazów
Przekształcenia obrazu konieczne do ilościowej analizy obrazu
Pomiary cyfrowe
Zliczanie obiektów i rozkład wielkości
Przestrzenny rozkład i analiza 3D
Wyznaczanie podstawowych wartości parametrów stereologicznych
Kwantyfikacja i minimalizacja rozproszenia wyników
Przykłady
Jak to wykorzystać w praktyce
Rozdział IV - Zanim rozpoczniemy badania
Uwagi (nie) tylko dla materiałoznawców
Uwagi (nie) tylko dla lekarzy
Rozdział V - Akwizycja obrazów
Fotografia
Mikroskopia świetlna (optyczna)
Mikroskopia skaningowa
Obrazy ultrasonograficzne
Obrazy rentgenowskie
Niektóre wady i zniekształcenia obrazu oraz metody ich usuwania
Korekcja cienia
Pokonywanie ograniczeń głębi ostrości
Podsumowanie
Rozdział VI - Analiza struktur komórkowych i ziarnistych
Uwagi ogólne
Wszystkie drogi prowadzą do...
Pianka poliuretanowa
Zapraszamy na placki ziemniaczane
Ziarna ceramiki CeO2
Pozornie prosty, a w istocie trudny przypadek
Dwa rodzaje granic ziaren
Sprytne rozwiązanie pozornie beznadziejnego problemu
Dwa sposoby uzupełnienia brakujących granic komórek
Ziarna widoczne jako... plamy
Nareszcie coś łatwego
Segmentacja kontrolowana i rekonstrukcja warunkowa
Uwagi końcowe
Rozdział VII - Detekcja różnych obiektów
Pory oraz odizolowane cząstki
Łańcuchy i kolonie cząstek
Włókna
Fraktografia
Obiekty o różnej teksturze
Rozdział VIII - Kolory, trzy wymiary i ruch
Analiza obrazów kolorowych
Obrazy 3-D
Analiza ruchu
Rozdział IX - Zastosowania medyczne
Analiza struktury beleczkowej kręgów
Detekcja beleczek kostnych na obrazie szarym
Ocena regeneratu kostnego
Analiza obrazu echokardiograficznego
Ilościowa ocena stopnia włóknienia mięśnia sercowego w mysim modelu niewydolności serca (myszy transgeniczne Tgaq*44)
Rozdział X - Przykłady zastosowań w nauce o materiałach
Detekcja ziaren ferrytu w żelazie Armco
Detekcja granic ziaren w ceramice na bazie Y2O3
Detekcja granic ziaren w ceramicznym tworzywie narzędziowym Al2O3+ZrO2
Detekcja granic ziaren w makrostrukturze stopu RENE77
Detekcja granic ziaren ferrytu oraz obszarów perlitu w stali St4S
Detekcja granic ziaren ferrytu oraz obszarów perlitu w stali St4S
Detekcja granic ziaren oraz mikropustek w spiekanej próbce CeO2
Detekcja węglików w strukturze nieleburytycznej stali szybkotnącej SNb5
Detekcja warstwy TiN naniesionej na powierzchnię żelaza Armco metodą PVD
Rozdział XI - Oprogramowanie do analizy obrazu
Podsumowanie
Literatura
Indeks
.
© 2009 - 2018 Biblioteka Politechniki Krakowskiej
http://www.biblos.pk.edu.pl/