Wyszukiwanie:
tytuł, autor
wszędzie

Sortowanie:


Bibliografia Publikacji Pracowników PK (50020)
    Książki (7575)
    Artykuły i czasopisma (22919)
    Materiały konferencyjne (22248)
    Rozprawy doktorskie (1275)
    Opublikowane recenzje (87)
    Inne publikacje w portalach i serwisach internetowych (163)
Inne bazy bibliograficzne (15019)
    Architektura i Sztuka Krakowa (2298)
    Historia i Ludzie PK – baza w przygotowaniu (0)
    Konferencje Krynickie - Referaty (7776)
    Niepublikowane prace naukowe pracowników PK (1994-2012) (4941)


Jednostki PK

Opcje

Nosidlak, Natalia; Jaglarz, Janusz

Właściwości optyczne cienkich warstw tlenków szerokopasmowych domieszkowanych Al2O3

typ: materiały konferencyjne w książce

 

Forma publikacji rozszerzony abstrakt / skrót referatu
Tytuł źródła KKE : XXII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłowo, 11.06-15.06.2023 : program konferencji
Współtwórca źródła Uniwersytet Morski w Gdyni [org.]
Miejsce wydania Gdynia
Wydawca Uniwersytet Morski w Gdyni
Data wydania 2023
Język polski
Typ nośnika USB
Zakres stron [238-241]
Oznaczenie ilustracji tab., wykr.
Bibliografia (na str.) [240-241]
Bibliografia (liczba pozycji) 15
Oznaczenie streszczenia Streszcz., Abstr.
Uwagi Miejsce wyd. wg siedziby org. konf.
Wydawca wg org. konf.
Data wyd. wg daty konf.
Nazwa konferencji XXII Krajowa Konferencja Elektroniki (XXII KKE)
Miejsce konferencji Darłowo, Polska
Data konferencji 11-15.06.2023
Charakter pracy publikacja naukowa
Publikacja recenzowana tak
Opis bibliograficzny
Właściwości optyczne cienkich warstw tlenków szerokopasmowych domieszkowanych Al2O3 / Natalia Nosidlak, Janusz Jaglarz // W: KKE : XXII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłowo, 11.06-15.06.2023 : ... więcej

tematyka
Słowa kluczowe osadzanie ALD, cienkie warstwy dielektryczne, właściwości optyczne, elipsometria

ALD deposition, thin dielectric films, optical properties, ellipsometry
Abstrakt
W pracy przedstawione są wyniki badań elipsometrycznych cienkich warstw tlenków szerokopasmowych (ZnO, TiO2, ZrO2) oraz tlenków szerokopasmowych z dodatkiem Al2O3. Parametry optyczne badanych cienkich ... więcej

In this work, the results of ellipsometric studies of thin films of broadband oxides (ZnO, TiO2, ZrO2) and broadband oxides doped with Al2O3 (Al2O3 - ZnO, Al2O3 - TiO2, Al2O3 - ZrO2) are presented. Sellmeier ... więcej

dodatkowe informacje
Publikacja w Open Access (OA) nie

odnośniki





© 2009 - 2023 Biblioteka Politechniki Krakowskiej http://www.biblos.pk.edu.pl/